Die Ausgangsfragestellung zu Projektbeginn lässt sich in 3 Fragen formulieren:

      (1) Welche Datenformate werden eingesetzt, um NanoCAD-Daten zu speichern? 
      (2) Welche neutralen Schnittstellen sind geeignet, um die in den NanoCAD-Daten erhaltenen Informationen
           ohne Systembrüche für die Prüfplanung und die Prüfplanabarbeitung nutzbar zu machen? 
      (3) Welche Anforderungen ergeben sich für die automatisierte Prüfplanabarbeitung? 

In wieweit können dafür wissensbasierte Methoden erfolgreich angewendet werden? Der Stand der Technik Ende Juni 2002 bezüglich des geschlossenen Informationsflusses zwischen CAD-System bis hin zur Qualitätsauswertung im CAQ-System wurde durch das vom BMBF geförderte Projekt WEPROM bestimmt. Innerhalb dieses Projektes wurde eine geschlossene Prozesskette für die entwurfsbasierte Prüfplanung an makroskopischen Bauteilen entwickelt. Bezogen auf den Stand der Technik zur wissens- und entwurfsbasierten Prüfplanung beschäftigt sich der Grossteil der Veröffentlichungen mit der Prüfplanung für die taktile Antastung im makroskopischen Bereich. Eine kleine Anzahl von Veröffentlichungen hat die Prüfplanung für alternative Antastsensoren, wie beispielsweise laserstrahlbasierte Antastung im makroskopischen Bereich, zum Gegenstand.