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Hauptergebnisse I Forschungsziele

 

 

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Teilprojekt A2 Nanomesstechnik
Fachgebiet Prozessmesstechnik
Im Zeitraum 2005 bis 2009 sind im Teilprojekt A2 die wissenschaftlichen Grundlagen für die Nanomess- Winkelmess- und Tastsysteme insbesondere unter dem Aspekt höherer Genauigkeitsanforderungen (Messauflösung < 0,05 nm, Reproduzierbarkeit < 1 nm) in erweiterten Messbereichen (350 mm x 350 mm x 5-50 mm) weiterzuentwickeln. Das entspricht einer relativen Messauflösung von ca. bzw. einer relativen Reproduzierbarkeit von. Infolge der hohen Anforderungen sind Untersuchungen erforderlich, inwieweit derartige Lösungen Vakuumbedingungen erfordern. Ein weiterer wichtiger Gesichtspunkt der Forschung im Teilprojekt A2 ist die Mehrachsfähigkeit der lichtwellenleitergekoppelten Interferometer. Für die 3D-Positionierung werden in Zukunft bis zu 6 Interferometerachsen benötigt. Beim Einsatz interferometrischer Antastsysteme und einer interferometrischen Umweltkorrektur können das dann bis zu 12 Achsen werden. Insbesondere aus der Sicht der Laserlichtquellen und der Lichtwellenleiterkopplung sowie der Schaffung der Grundlagen von Mikrointerferometern für die Anwendung in Tastsystemen ergeben sich hier große Herausforderungen.






Projektleiter:  Prof. Dr.-Ing. habil. Gerd Jäger, Dr.-Ing. Eberhard Manske
Mitarbeiter: Dr.-Ing. Tino Hausotte, Dipl.-Ing. Ingomar Schmidt , Dipl.-Ing. Nobert Hofmann 

IMPRESSUM

 

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